Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/969
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Новосядлий, Степан Петрович | - |
dc.contributor.author | Івасюк, Р. В. | - |
dc.contributor.author | Котик, Михайло Васильович | - |
dc.date.accessioned | 2019-11-26T13:28:34Z | - |
dc.date.available | 2019-11-26T13:28:34Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Новосядлий С. П. Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах / С. П. Новосядлий, Р. В. Івасюк, М. В. Котик // Фізика і хімія твердого тіла. - 2017. - Т. 18. - № 3. - С. 376-381. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/969 | - |
dc.description.abstract | Кількісні значення електричного потенціалу генерування елементів субмікронних структур ВІС в робочому режимі можуть бути експериментально визначені електрооптичним ефектом в нематичному рідкому кристалі. Цей метод стосується методів електронної діагностики структур ВІС, що використовують ТК, і відноситься до САПР системи ВІС. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | рідкі кристали | uk_UA |
dc.subject | високоінтегральний контур | uk_UA |
dc.subject | автоматизована система проектування | uk_UA |
dc.subject | нематичні рідкі кристали | uk_UA |
dc.title | Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах | uk_UA |
dc.title.alternative | Features Potential Measurements in Submicron High Integral Circuits Structures Using Electro-Optical Effect in Liquid Crystals | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т 18, № 3 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
2283-6479-1-PB.pdf | 1.24 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.