Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/969
Title: | Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах |
Other Titles: | Features Potential Measurements in Submicron High Integral Circuits Structures Using Electro-Optical Effect in Liquid Crystals |
Authors: | Новосядлий, Степан Петрович Івасюк, Р. В. Котик, Михайло Васильович |
Keywords: | рідкі кристали високоінтегральний контур автоматизована система проектування нематичні рідкі кристали |
Issue Date: | 2017 |
Publisher: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
Citation: | Новосядлий С. П. Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах / С. П. Новосядлий, Р. В. Івасюк, М. В. Котик // Фізика і хімія твердого тіла. - 2017. - Т. 18. - № 3. - С. 376-381. |
Abstract: | Кількісні значення електричного потенціалу генерування елементів субмікронних структур ВІС в робочому режимі можуть бути експериментально визначені електрооптичним ефектом в нематичному рідкому кристалі. Цей метод стосується методів електронної діагностики структур ВІС, що використовують ТК, і відноситься до САПР системи ВІС. |
URI: | http://hdl.handle.net/123456789/969 |
Appears in Collections: | Т 18, № 3 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
2283-6479-1-PB.pdf | 1.24 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.