Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/969
Title: Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах
Other Titles: Features Potential Measurements in Submicron High Integral Circuits Structures Using Electro-Optical Effect in Liquid Crystals
Authors: Новосядлий, Степан Петрович
Івасюк, Р. В.
Котик, Михайло Васильович
Keywords: рідкі кристали
високоінтегральний контур
автоматизована система проектування
нематичні рідкі кристали
Issue Date: 2017
Publisher: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Citation: Новосядлий С. П. Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах / С. П. Новосядлий, Р. В. Івасюк, М. В. Котик // Фізика і хімія твердого тіла. - 2017. - Т. 18. - № 3. - С. 376-381.
Abstract: Кількісні значення електричного потенціалу генерування елементів субмікронних структур ВІС в робочому режимі можуть бути експериментально визначені електрооптичним ефектом в нематичному рідкому кристалі. Цей метод стосується методів електронної діагностики структур ВІС, що використовують ТК, і відноситься до САПР системи ВІС.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/969
Appears in Collections:Т 18, № 3

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2283-6479-1-PB.pdf1.24 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.