Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/7259
Назва: | Залежність електричних властивостей тонких шарів PbSe на поліамідній підкладці від технологічних факторів їх одержання |
Автори: | Добровольська, А. М. Лоп'янко, Михайло Антонович Межиловська, Любов Йосипівна Запухляк, Руслан Ігорович |
Ключові слова: | тонкі шари технологічні фактори температура підкладка випарник стінка камери параметри концентрація рухливість оптимізація |
Дата публікації: | 25-тра-2000 |
Видавництво: | Прикарпатський національний університет ім. В. Стефаника |
Бібліографічний опис: | А.М. Добровольська. Залежність електричних властивостей тонких шарів PbSe на поліамідній підкладці від технологічних факторів їх одержання/ А.М. Добровольська, М.А. Лоп’янко, Л.Й. Межиловська, Р.І. Запухляк // Фізика і хімія твердого тіла, Т.1, №2 (2000) С. 301-306 |
Короткий огляд (реферат): | Одним із перспективних способів одержання якісних тонкошарових матеріалів на основі сполук AIVBVI є метод гарячої стінки [1-3]. Експериментально встановлено [1-3], що властивості тонких шарів, одержаних за допомогою цього методу, визначають температури підкладок, випарника і стінок камери. Однак з’ясовано, що варіювання одного з факторів технологічного процесу при незмінних значеннях інших не дозволяє встановити міру їх відносного впливу на фізичні властивості шарів PbSe [4]. У цій роботі за допомогою методу математичного планування експерименту вивчено залежність електричних властивостей тонких шарів селеніду свинцю, вирощених з парової фази на поліаміді, від технологічних факторів. Вибір поліаміду в якості підкладок обумовлений особливими фізико-хімічними і механічними властивостями цього матеріалу |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/7259 |
ISSN: | 1729-4428 |
Розташовується у зібраннях: | Статті та тези (ФТФ) |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
2000р. №2.pdf | 264.97 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.