Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/6841
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСалій, Ярослав Петрович-
dc.date.accessioned2020-05-05T17:51:17Z-
dc.date.available2020-05-05T17:51:17Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationСалій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16. - № 1. - С. 79-82.uk_UA
dc.identifier.other10.15330/pcss.16.1.79-82-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/6841-
dc.description.abstractВиконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметру. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"uk_UA
dc.subjectтелурид оловаuk_UA
dc.subjectатомно-силова мікроскопіяuk_UA
dc.subjectкристалографіяuk_UA
dc.titleКристалографічні особливості наноструктур SnTe на поліімідіuk_UA
dc.title.alternativeCrystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimideuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 16, № 1

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
716-2295-1-SM.pdf159.17 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.