Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/6841
Назва: Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді
Інші назви: Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide
Автори: Салій, Ярослав Петрович
Ключові слова: телурид олова
атомно-силова мікроскопія
кристалографія
Дата публікації: 2015
Видавництво: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Бібліографічний опис: Салій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16. - № 1. - С. 79-82.
Короткий огляд (реферат): Виконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметру. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/6841
Розташовується у зібраннях:Т. 16, № 1

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
716-2295-1-SM.pdf159.17 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.