Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/6841
Назва: | Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді |
Інші назви: | Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide |
Автори: | Салій, Ярослав Петрович |
Ключові слова: | телурид олова атомно-силова мікроскопія кристалографія |
Дата публікації: | 2015 |
Видавництво: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
Бібліографічний опис: | Салій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16. - № 1. - С. 79-82. |
Короткий огляд (реферат): | Виконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметру. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/6841 |
Розташовується у зібраннях: | Т. 16, № 1 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
716-2295-1-SM.pdf | 159.17 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.