DSpace JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/6841| Title: | Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді |
| Other Titles: | Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide |
| Authors: | Салій, Ярослав Петрович |
| Keywords: | телурид олова атомно-силова мікроскопія кристалографія |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
| Citation: | Салій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - Т. 16. - № 1. - С. 79-82. |
| Abstract: | Виконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметру. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження. |
| URI: | http://hdl.handle.net/123456789/6841 |
| Appears in Collections: | Т. 16, № 1 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 716-2295-1-SM.pdf | 159.17 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.