Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/6332
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ільчук, Григорій Архипович | - |
dc.contributor.author | Кашуба, Андрій Іванович | - |
dc.contributor.author | Петрусь, Роман Юрійович | - |
dc.contributor.author | Семків, Ігор Володимирович | - |
dc.contributor.author | Українець, Наталія Андріївна | - |
dc.date.accessioned | 2020-04-28T09:20:39Z | - |
dc.date.available | 2020-04-28T09:20:39Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.citation | Ільчук Г. А. Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок / Г. А. Ільчук, А. І. Кашуба, Р. Ю. Петрусь, І. В. Семків, Н. А. Українець // Фізика і хімія твердого тіла. - 2020. - Т. 21. - № 1. - С. 57-60. | uk_UA |
dc.identifier.other | 10.15330/pcss.21.1.57-60 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/6332 | - |
dc.description.abstract | Використовуючи умову інтерференційних екстремумів визначено спектральну залежність коефіцієнта пропускання, як функцію товщини плівки, показника заломлення підкладки, ширини забороненої зони та параметрів Коші (α і β) напівпровідникових тонких плівок. Проведено моделювання коефіцієнта пропускання для структури – тонка плівка/підкладка. В якості модельних зразків обрано халькогеніди кадмію (CdTe, CdSe та CdS) осаджені на кварцові підкладки. Коефіцієнт пропускання підкладки встановлено експериментально для визначення його показника заломлення. Проводиться порівняння теоретичних результатів із експериментальними даними та вказується на хорошу збіжність. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | ширина забороненої зони | uk_UA |
dc.subject | оптичні функції | uk_UA |
dc.subject | тонкі плівки | uk_UA |
dc.subject | коефіцієнт відбивання | uk_UA |
dc.title | Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок | uk_UA |
dc.title.alternative | Simulation the spectral dependence of the transmittance for semiconductor thin films | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Т.21 № 1 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
4307-13006-1-PB.pdf | 582.48 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.