1. Precarpathian National University Repository
  2. Періодичні видання ПНУ
  3. Наукові журнали
  4. Фізика і хімія твердого тіла
  5. 2020
  6. Т.21 № 1
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/6332
Назва: Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок
Інші назви: Simulation the spectral dependence of the transmittance for semiconductor thin films
Автори: Ільчук, Григорій Архипович
Кашуба, Андрій Іванович
Петрусь, Роман Юрійович
Семків, Ігор Володимирович
Українець, Наталія Андріївна
Ключові слова: ширина забороненої зони
оптичні функції
тонкі плівки
коефіцієнт відбивання
Дата публікації: 2020
Видавництво: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Бібліографічний опис: Ільчук Г. А. Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок / Г. А. Ільчук, А. І. Кашуба, Р. Ю. Петрусь, І. В. Семків, Н. А. Українець // Фізика і хімія твердого тіла. - 2020. - Т. 21. - № 1. - С. 57-60.
Короткий огляд (реферат): Використовуючи умову інтерференційних екстремумів визначено спектральну залежність коефіцієнта пропускання, як функцію товщини плівки, показника заломлення підкладки, ширини забороненої зони та параметрів Коші (α і β) напівпровідникових тонких плівок. Проведено моделювання коефіцієнта пропускання для структури – тонка плівка/підкладка. В якості модельних зразків обрано халькогеніди кадмію (CdTe, CdSe та CdS) осаджені на кварцові підкладки. Коефіцієнт пропускання підкладки встановлено експериментально для визначення його показника заломлення. Проводиться порівняння теоретичних результатів із експериментальними даними та вказується на хорошу збіжність.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/6332
Розташовується у зібраннях:Т.21 № 1

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
4307-13006-1-PB.pdf582.48 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.