DSpace JSPUI
DSpace зберігає і дозволяє легкий і відкритий доступ до всіх видів цифрового контенту, включаючи текст, зображення, анімовані зображення, MPEG і набори даних
Дізнатися більше
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/577| Назва: | Оптичні властивості гетеропереходу CdS/CdTe, отримані методом фізичного осадження з парової фази |
| Інші назви: | Optical Properties of CdS/CdTe Heterojunction Prepared by Physical Vapor Deposition Technique |
| Автори: | Никируй, Любомир Іванович Яремійчук, О. В. Запухляк, Жанна Русланівна Яворський, Ростислав Святославович Потера, П. Малярська, І. В. Федорик, О. Я. |
| Ключові слова: | тонкоплівкові гетероструктури метод термічного випаровування оптичні властивості |
| Дата публікації: | 2018 |
| Бібліографічний опис: | Никируй Л. І. Оптичні властивості гетеропереходу CdS/CdTe, отримані методом фізичного осадження з парової фази / Л. І. Никируй, О. В. Яремійчук, Ж. Р. Запухляк, Р. С. Яворський, П. Потера, І. В. Малярська, О. Я. Федорик // Фізика і хімія твердого тіла. - 2018. - Т. 19. - № 3. - С. 209-216. |
| Короткий огляд (реферат): | У статті наведено дослідження оптичних властивостей тонкого шару сульфіду кадмію в плівках телуриду кадмію. Тонкі плівки CdTe були отримані методом відкритого випаровування у вакуумі, використовуючи різні технологічні фактори, зокрема, різну товщину (різний час осадження τ) на скляних підкладах. Після осадження оптичні властивості аналізували методом Swanepoel, використовуючи спектри пропускання. Наступний тонкий шар CdS осаджувався методом термічного випаровування на тонких плівках CdTe. Досліджено зміну оптичних властивостей гетероструктури CdS/CdTe у порівнянні з тонкими плівками CdTe. Використовуючи метод Swanepoel, розраховано основні оптичні константи, такі як показник заломлення, коефіцієнт поглинання та оптична провідність. За допомогою цього методу отримано товщину тонкої плівки та порівняно її з експериментальними значеннями, отриманих за допомогою профілометра. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/577 |
| Розташовується у зібраннях: | Т.19 №3 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 3275-9695-1-PB.pdf | 424.71 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.