Application of modulation spectroscopy for defining band gap of Cd1-xMnxTe solid solution

Abstract

Для визначення ширини забороненої зони монокристалічних твердих розчинів Cd1-xMnxTe, властивості яких змінюються з молярним складом x та якістю підготовки поверхні, використано модуляційну спектроскопію. Виявлено, що для таких зразків доцільно вимірювати диференційний спектр пропускання, основний пік якого регулюється складом x та товщиною підкладки d. Відповідно, потрібно виміряти Eg(d) принаймні для трьох зразків однакового складу та різної товщини. Використовуючи такі дані, екстраполяцією залежності Eg(d) в логарифмічній шкалі у точці перетину з віссю енергії lg d = 0 отримано значення ширини забороненої зони, що відповідає товщині зразка 1 мкм.