Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/4193
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВозняк, Орест Михайлович-
dc.contributor.authorФреїк, Дмитро Михайлович-
dc.contributor.authorНикируй, Любомир Іванович-
dc.contributor.authorІльків, Олег Іванович-
dc.date.accessioned2020-04-03T19:39:27Z-
dc.date.available2020-04-03T19:39:27Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.citationД.М. Фреїк, Л.І. Никируй, О.І. Ільків, О.М. Возняк Метод часу релаксації та варіаційний підхід у аналізі явищ переносу у напівпровідниках AIVBVI // ФІЗИКА І ХІМІЯ ТВЕРДОГО ТІЛА. - 2007. - Т. 8, № 3.- С. 451-456uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/4193-
dc.description.abstractВиконано порівняльний аналіз різних теоретичних наближень, які використовують для розв’язання рівняння Больцмана при дослідженні механізмів розсіювання носіїв заряду у напівпровідниках AIVBVI: метод часу релаксації та варіаційний підхід. Визначено концентраційні та температурні межі домінування окремих механізмів розсіювання носіїв заряду. Вказана переваги кожного із розглядуваних підходів.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.subjectнапівпровідники AIVBVI, механізми розсіювання, рухливість носіїв заряду, метод часу релаксації, варіаційний підхідuk_UA
dc.titleМетод часу релаксації та варіаційний підхід у аналізі явищ переносу у напівпровідниках AIVBVIuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Статті та тези (ФТФ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
0803-02.pdf370.84 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.