Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/3839
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСалій, Ярослав Петрович-
dc.contributor.authorФреїк, Ілля Михайлович-
dc.date.accessioned2020-04-02T10:31:34Z-
dc.date.available2020-04-02T10:31:34Z-
dc.date.issued2005-05-30-
dc.identifier.citationстаттяuk_UA
dc.identifier.issn1729-4428-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/3839-
dc.descriptionРобота аспіранта, матеріал для курсу "Комп'ютерне моделювання фізичних процесів"uk_UA
dc.description.abstractСтатичним методом молекулярної динаміки моделювались малі сокупності взаємодіючих іонів. Для сокупностей, що мають один іон із зарядом протилежним до заряду всіх інших іонів, виявлено стабільні конфігурації з цим іоном у центрі. Встановлено вплив величини заряду центрального іона на координаційний багатогранник, утворений іонами іншого знаку. Досліджено залежність стабільності таких конфігурацій від типу і розміру відштовхувальної сердцевини сферично симетричного центрального потенціалу іонної взаємодії. Також моделювались сокупності, які мають приблизно однакові кількості аніонів і катіонів. Встановлено, що кластери бінарної сполуки з однозарядними аніонами набувають структури типу NaCl у випадку однозарядних катіонів, і BaF2 — у випадку двозарядних. При цьому виявилось, що утворення великого монокристаліта із стабільною конфігурацією залежить від початкової концентрації іонів.uk_UA
dc.description.sponsorshipПрикарпатський національний університетuk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherПрикарпатський національний університетuk_UA
dc.subjectструктура типу NaCl, кластери, одно- і двозарядні катіони, BaF2uk_UA
dc.titleКомп’ютерне моделювання іонних кластерів і дефектів у нихuk_UA
dc.title.alternativeМодель Ленарда-Джонсаuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Статті та тези (ФТФ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Компютерне моделювання Са і Фр.pdf308.01 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.