Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/19364
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кашуба, Андрій Іванович | - |
dc.contributor.author | Семків, Ігор Володимирович | - |
dc.contributor.author | Андрієвський, Б. | - |
dc.contributor.author | Ільчук, Григорій Архипович | - |
dc.contributor.author | Покладок, Надія Теофілівна | - |
dc.date.accessioned | 2024-05-02T07:13:56Z | - |
dc.date.available | 2024-05-02T07:13:56Z | - |
dc.date.issued | 2024 | - |
dc.identifier.citation | Кашуба А. І. Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення / А. І. Кашуба, І. В. Семків, Б. Андрієвський, Г. А. Ільчук, Н. Т. Покладок // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 1. - С. 40-44. | uk_UA |
dc.identifier.other | 10.15330/pcss.25.1.40-44 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/19364 | - |
dc.description.abstract | Тонкі плівки CdSe1-xSx (x= 0.3, 0.4 та 0.6) осаджено на кварцові та кремнієві підкладки методом високочастотного магнетронного напилення. Аналіз хімічного складу та уточнення кристалічної структури досліджено за допомогою рентгенівської флуоресцентної спектроскопії та рентгенівської дифракції. Тонкі плівки CdSe1-xSx кристалізуються в гексагональну структуру (тип структури – ZnO, просторова група P63mc (№ 186)). Параметри кристалічної решітки (a, c і V), розмір кристалітів (D), деформація (ε), щільність дислокацій (δ) і текстурний коефіцієнт TC(hkl) оцінювали за результатами рентгенівського дифракційного аналізу. Параметри елементарної комірки зменшуються зі збільшенням вмісту серу в тонкій плівці CdSe1-xSx. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника | uk_UA |
dc.subject | тонка плівка | uk_UA |
dc.subject | твердий розчин | uk_UA |
dc.subject | кристалічна структура | uk_UA |
dc.subject | розмір кристалітів | uk_UA |
dc.subject | текстурний коефіцієнт | uk_UA |
dc.subject | рентгенівська дифракція | uk_UA |
dc.title | Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення | uk_UA |
dc.title.alternative | Structural and morphological properties of CdSe1-xSx thin films obtained by the method of high-frequency magnetron sputtering | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т. 25, № 1 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
pcss,+05_Kashuba(e).pdf | 612.9 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.