Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/19364
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКашуба, Андрій Іванович-
dc.contributor.authorСемків, Ігор Володимирович-
dc.contributor.authorАндрієвський, Б.-
dc.contributor.authorІльчук, Григорій Архипович-
dc.contributor.authorПокладок, Надія Теофілівна-
dc.date.accessioned2024-05-02T07:13:56Z-
dc.date.available2024-05-02T07:13:56Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationКашуба А. І. Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення / А. І. Кашуба, І. В. Семків, Б. Андрієвський, Г. А. Ільчук, Н. Т. Покладок // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 1. - С. 40-44.uk_UA
dc.identifier.other10.15330/pcss.25.1.40-44-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/19364-
dc.description.abstractТонкі плівки CdSe1-xSx (x= 0.3, 0.4 та 0.6) осаджено на кварцові та кремнієві підкладки методом високочастотного магнетронного напилення. Аналіз хімічного складу та уточнення кристалічної структури досліджено за допомогою рентгенівської флуоресцентної спектроскопії та рентгенівської дифракції. Тонкі плівки CdSe1-xSx кристалізуються в гексагональну структуру (тип структури – ZnO, просторова група P63mc (№ 186)). Параметри кристалічної решітки (a, c і V), розмір кристалітів (D), деформація (ε), щільність дислокацій (δ) і текстурний коефіцієнт TC(hkl) оцінювали за результатами рентгенівського дифракційного аналізу. Параметри елементарної комірки зменшуються зі збільшенням вмісту серу в тонкій плівці CdSe1-xSx.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherПрикарпатський національний університет імені Василя Стефаникаuk_UA
dc.subjectтонка плівкаuk_UA
dc.subjectтвердий розчинuk_UA
dc.subjectкристалічна структураuk_UA
dc.subjectрозмір кристалітівuk_UA
dc.subjectтекстурний коефіцієнтuk_UA
dc.subjectрентгенівська дифракціяuk_UA
dc.titleСтруктурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпиленняuk_UA
dc.title.alternativeStructural and morphological properties of CdSe1-xSx thin films obtained by the method of high-frequency magnetron sputteringuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 25, № 1

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
pcss,+05_Kashuba(e).pdf612.9 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.