Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/19364
Назва: Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення
Інші назви: Structural and morphological properties of CdSe1-xSx thin films obtained by the method of high-frequency magnetron sputtering
Автори: Кашуба, Андрій Іванович
Семків, Ігор Володимирович
Андрієвський, Б.
Ільчук, Григорій Архипович
Покладок, Надія Теофілівна
Ключові слова: тонка плівка
твердий розчин
кристалічна структура
розмір кристалітів
текстурний коефіцієнт
рентгенівська дифракція
Дата публікації: 2024
Видавництво: Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника
Бібліографічний опис: Кашуба А. І. Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення / А. І. Кашуба, І. В. Семків, Б. Андрієвський, Г. А. Ільчук, Н. Т. Покладок // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 1. - С. 40-44.
Короткий огляд (реферат): Тонкі плівки CdSe1-xSx (x= 0.3, 0.4 та 0.6) осаджено на кварцові та кремнієві підкладки методом високочастотного магнетронного напилення. Аналіз хімічного складу та уточнення кристалічної структури досліджено за допомогою рентгенівської флуоресцентної спектроскопії та рентгенівської дифракції. Тонкі плівки CdSe1-xSx кристалізуються в гексагональну структуру (тип структури – ZnO, просторова група P63mc (№ 186)). Параметри кристалічної решітки (a, c і V), розмір кристалітів (D), деформація (ε), щільність дислокацій (δ) і текстурний коефіцієнт TC(hkl) оцінювали за результатами рентгенівського дифракційного аналізу. Параметри елементарної комірки зменшуються зі збільшенням вмісту серу в тонкій плівці CdSe1-xSx.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/19364
Розташовується у зібраннях:Т. 25, № 1

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
pcss,+05_Kashuba(e).pdf612.9 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.