Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/19364
Назва: | Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення |
Інші назви: | Structural and morphological properties of CdSe1-xSx thin films obtained by the method of high-frequency magnetron sputtering |
Автори: | Кашуба, Андрій Іванович Семків, Ігор Володимирович Андрієвський, Б. Ільчук, Григорій Архипович Покладок, Надія Теофілівна |
Ключові слова: | тонка плівка твердий розчин кристалічна структура розмір кристалітів текстурний коефіцієнт рентгенівська дифракція |
Дата публікації: | 2024 |
Видавництво: | Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника |
Бібліографічний опис: | Кашуба А. І. Структурно-морфологічні властивості тонких плівок CdSe1-xSx, отриманих методом високочастотного магнетронного розпилення / А. І. Кашуба, І. В. Семків, Б. Андрієвський, Г. А. Ільчук, Н. Т. Покладок // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 1. - С. 40-44. |
Короткий огляд (реферат): | Тонкі плівки CdSe1-xSx (x= 0.3, 0.4 та 0.6) осаджено на кварцові та кремнієві підкладки методом високочастотного магнетронного напилення. Аналіз хімічного складу та уточнення кристалічної структури досліджено за допомогою рентгенівської флуоресцентної спектроскопії та рентгенівської дифракції. Тонкі плівки CdSe1-xSx кристалізуються в гексагональну структуру (тип структури – ZnO, просторова група P63mc (№ 186)). Параметри кристалічної решітки (a, c і V), розмір кристалітів (D), деформація (ε), щільність дислокацій (δ) і текстурний коефіцієнт TC(hkl) оцінювали за результатами рентгенівського дифракційного аналізу. Параметри елементарної комірки зменшуються зі збільшенням вмісту серу в тонкій плівці CdSe1-xSx. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/19364 |
Розташовується у зібраннях: | Т. 25, № 1 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
pcss,+05_Kashuba(e).pdf | 612.9 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.