DSpace JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/15959| Title: | Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> |
| Other Titles: | X-ray diffractometric study of HDPE/GaAs and HDPE/GaAs<Te> composites |
| Authors: | Гаджієва, Н. Н. Ахмадова, Г. Б. Мелікова, С. З. Асадов, Ф. Г. |
| Keywords: | композити GaAs<Te> поліетилен високої щільності метод рентгенівської дифрактометрії |
| Issue Date: | 2023 |
| Publisher: | Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника |
| Citation: | Гаджієва Н. Н. Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> / Н. Н. Гаджієва, Г. Б. Ахмадова, С. З. Мелікова, Ф. Г. Асадов // Фізика і хімія твердого тіла. - 2023. - Т. 24. - № 1. - С. 23-25. |
| Abstract: | Листи поліетилену високої щільності (HDPE), композити HDPE/GaAs і HDPE/ GaAs<Te> з напівпровідниковими наповнювачами GaAs і GaAs<Te> досліджували методом рентгенівської дифрактометрії при кімнатній температурі. Розраховано ступінь кристалізації цих зразків і встановлено, що включення до полімерної матриці наповнювачів (х=1-10% складу) призводить до збільшення ступеня кристалізації в 1,3-1,4 рази. Отримані результати пояснюються зміною високої молекулярної структури полімеру. |
| URI: | http://hdl.handle.net/123456789/15959 |
| Appears in Collections: | Т. 24, № 1 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 6346-Текст статті-19066-2-10-20230223.pdf | 470.98 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.