Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/11169
Назва: | Отримання плівок ZnO, зрощених на альтернативних підкладках методами CVD та MOCVD |
Інші назви: | Receiving ZnO Films, Fused on alternative substrates CVD and MOCVD Methods |
Автори: | Буланий, Михайло Филимонович Коваленко, Олександр Володимирович Омельчук, А. Р. Полозов, К. Ю. Скуратовська, О. В. |
Ключові слова: | тонкі плівки квантові точки |
Дата публікації: | 2013 |
Видавництво: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
Бібліографічний опис: | Буланий М. Ф. Отримання плівок ZnO, зрощених на альтернативних підкладках методами CVD та MOCVD / М. Ф. Буланий, О. В. Коваленко, А. Р. Омельчук, К. Ю. Полозов, О. В. Скуратовська // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 4. - С. 784-788. |
Короткий огляд (реферат): | В роботі аналізуються фізичні властивості плівок ZnO зрощених на підкладках GaAs (100) методом CVD при T = 350 °C у складі газової суміші повітря : азот = 5 : 1; та плівок ZnO зрощених на керамічних підкладках методом MOCVD при T = 300 °C у складі газової суміші аргон : кисень = 9 : 1. Товщина отриманих плівок ZnO становила ~ 1 мкм. У спектрах ФЛ зрощених нами зразків спостерігається УФ смуга ФЛ з максимумом λmax = 380 – 400 нм, яку пов'язують із випромінювальною рекомбінацією електронів і дірок, локалізованих на дрібних донорних і акцепторних рівнях. Широка смуга ФЛ з λmax = 570 - 580 нм і λmax = 500 - 510 нм для плівок ZnO зрощених методами CVD і MOCVD відповідно, швидше за все, обумовлена різними дефектами структури оксиду цинку. Серед таких дефектів найбільш вірогідні кисневі вакансії та міжвузловий цинк. Червона смуга ФЛ з λmax = 670 нм може бути пов'язана з поверхневими дислокаціями, наявністю неконтрольованих домішок літію і заліза, а також міжвузловим цинком. Синтезовані плівки ZnO мали полікристалічну структуру з розмірами зерен від 40 до 60 нм (метод CVD) та від 90 до 110 нм (метод MOCVD), в свою чергу, зерна мають гексагональну структуру з параметрами кристалічної гратки: а = 3,2811 Å; c = 5,2066 Å з низьким ступенем мікронапружень: М = 1,09 ∙ 10-3 %. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/11169 |
Розташовується у зібраннях: | Т. 14, № 4 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
!1404-16.pdf | 547.31 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.