Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/10724
Назва: Кристалохімічний аналіз дефектної підсистеми у легованих і відпалених у шарі селену кристалах ZnSe:Mn
Інші назви: Crystal defect analysis subsystem alloyed and annealed in a layer of selenium crystals ZnSe:Mn
Автори: Фреїк, Дмитро Михайлович
Левкун, М. П.
Бойчук, Володимира Михайлівна
Гургула, Галина Ярославівна
Юрчишин, Любов Дмитрівна
Ключові слова: кристалохімічний аналіз
концентрація точкових дефектів
Дата публікації: 2014
Видавництво: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Бібліографічний опис: Фреїк Д. М. Кристалохімічний аналіз дефектної підсистеми у легованих і відпалених у шарі селену кристалах ZnSe:Mn / Д. М. Фреїк, М. П. Левкун, В. М. Бойчук, Г. Я. Гургула, Л. Д. Юрчишин // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 4. - С. 784-791.
Короткий огляд (реферат): На основі запропонованих кристалоквазіхімічних формул для легованих манганом кристалів nZnSе:Mn та p-ZnSе:Mn розраховано залежності концентрації переважаючих точкових дефектів, вільних носіїв та холлівської концентрації від вмісту легуючої домішки Mn. Підтверджено донорну дію мангану. Показано, що відпал кристалів n-ZnSе:Mn у парі Se призводить до зменшення концентрації електронів, а у кристалах р-ZnSе:Mn‹Se› має місце зростання основних носіїв струму.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/10724
Розташовується у зібраннях:Т. 15, № 4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
!1504-17.pdf598.98 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.