Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/10708
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Рувінський, Борис Маркович | - |
dc.contributor.author | Рувінський, Марк Аунович | - |
dc.date.accessioned | 2021-08-18T08:00:17Z | - |
dc.date.available | 2021-08-18T08:00:17Z | - |
dc.date.issued | 2014 | - |
dc.identifier.citation | Рувінський Б. М. Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту / Б. М. Рувінський, М. А. Рувінський // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 4. - С. 689-692. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/10708 | - |
dc.description.abstract | Визначено електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту, зумовлені випадковим полем гауссівських флуктуацій товщини дроту. Результати наведено для випадків невиродженої і виродженої статистики носіїв струму. Показано, що розглянутий механізм релаксації носіїв заряду є суттєвим для достатньо тонкого і чистого дроту з GaAs при низьких температурах і допускає принципову можливість підвищення величини термоерс порівняно з випадком масивного тривимірного зразка. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | квантовий напівпровідниковий дріт | uk_UA |
dc.subject | гауссові флуктуації товщини | uk_UA |
dc.subject | електропровідність | uk_UA |
dc.subject | термоерс | uk_UA |
dc.title | Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту | uk_UA |
dc.title.alternative | The Influence of Thickness Fluctuations on the Electroconductivity and Thermopower of Quantum Semiconductor Wire | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т. 15, № 4 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
!1504-02.pdf | 120.43 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.