Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/10708
Title: | Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту |
Other Titles: | The Influence of Thickness Fluctuations on the Electroconductivity and Thermopower of Quantum Semiconductor Wire |
Authors: | Рувінський, Борис Маркович Рувінський, Марк Аунович |
Keywords: | квантовий напівпровідниковий дріт гауссові флуктуації товщини електропровідність термоерс |
Issue Date: | 2014 |
Publisher: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
Citation: | Рувінський Б. М. Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту / Б. М. Рувінський, М. А. Рувінський // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 4. - С. 689-692. |
Abstract: | Визначено електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту, зумовлені випадковим полем гауссівських флуктуацій товщини дроту. Результати наведено для випадків невиродженої і виродженої статистики носіїв струму. Показано, що розглянутий механізм релаксації носіїв заряду є суттєвим для достатньо тонкого і чистого дроту з GaAs при низьких температурах і допускає принципову можливість підвищення величини термоерс порівняно з випадком масивного тривимірного зразка. |
URI: | http://hdl.handle.net/123456789/10708 |
Appears in Collections: | Т. 15, № 4 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
!1504-02.pdf | 120.43 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.