DSpace JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/1039| Title: | Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана |
| Other Titles: | Measurement of Thermoelectric Parameters of Thin-Film Semiconductor Materials Using the Harman Method |
| Authors: | Тур, Ю. В. Павловський, Юрій Вікторович Вірт, Ігор Степанович |
| Keywords: | тонкі плівки телурид свинцю термоелектрична добротність метод Хармана імпульсно-лазерне осадження |
| Issue Date: | 2019 |
| Citation: | Тур Ю. В. Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана / Ю. В. Тур, Ю. В. Павловський, І. С. Вірт // Фізика і хімія твердого тіла. - 2019. - Т. 20. - № 3. - С. 306-310 |
| Abstract: | Для аналізу вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідників, використано імпульсний метод Хармана Запропоновано новий підхід для визначення термоелектричної добротності тонких напівпровідникових плівок у інтервалі температур (300÷500)К шляхом безпосереднього вимірювання ряду параметрів електричного кола. Детально описано теорію методу, застосування його у методиці вимірювань. Досліджено залежності електричних величин, зокрема напруги - V(t), від часу при різних значеннях імпульсів струму для тонких плівок PbTe<Tl> вирощених імпульсним лазерним осадженням. |
| URI: | http://hdl.handle.net/123456789/1039 |
| Appears in Collections: | Т.20, №3 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 3974-11745-1-PB.pdf | 775.94 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.