Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/1039
Title: | Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана |
Other Titles: | Measurement of Thermoelectric Parameters of Thin-Film Semiconductor Materials Using the Harman Method |
Authors: | Тур, Ю. В. Павловський, Юрій Вікторович Вірт, Ігор Степанович |
Keywords: | тонкі плівки телурид свинцю термоелектрична добротність метод Хармана імпульсно-лазерне осадження |
Issue Date: | 2019 |
Citation: | Тур Ю. В. Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана / Ю. В. Тур, Ю. В. Павловський, І. С. Вірт // Фізика і хімія твердого тіла. - 2019. - Т. 20. - № 3. - С. 306-310 |
Abstract: | Для аналізу вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідників, використано імпульсний метод Хармана Запропоновано новий підхід для визначення термоелектричної добротності тонких напівпровідникових плівок у інтервалі температур (300÷500)К шляхом безпосереднього вимірювання ряду параметрів електричного кола. Детально описано теорію методу, застосування його у методиці вимірювань. Досліджено залежності електричних величин, зокрема напруги - V(t), від часу при різних значеннях імпульсів струму для тонких плівок PbTe<Tl> вирощених імпульсним лазерним осадженням. |
URI: | http://hdl.handle.net/123456789/1039 |
Appears in Collections: | Т.20, №3 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
3974-11745-1-PB.pdf | 775.94 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.