Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/10210
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Павлик, Богдан Васильович | - |
dc.contributor.author | Лис, Роман Мирославович | - |
dc.contributor.author | Дідик, Роман Іванович | - |
dc.contributor.author | Шикоряк, Йосип Андрійович | - |
dc.date.accessioned | 2021-06-14T09:47:07Z | - |
dc.date.available | 2021-06-14T09:47:07Z | - |
dc.date.issued | 2014 | - |
dc.identifier.citation | Павлик Б. В. Дослідження змін електропровідності опромінених Х-променями кристалів p-Si в процесі пружної деформації / Б. В. Павлик, Р. М. Лис, Р. І. Дідик, Й. А. Шикоряк // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 2. - С. 297-302. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/10210 | - |
dc.description.abstract | Досліджувались зміни електропровідності опромінених при кімнатній температурі монокристалічних зразків p-Si в процесі їх стиску та зняття механічного навантаження. Виявлено, що під час витримки досліджуваного зразка під навантаженням опір зразка зростає. Виявлено ефект «радіаційної пам’яті». Встановлено, що в процесі опромінення рентгенівськими променями опір зразків зростає пропорційно кореню квадратному із дози опромінення. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | монокристалічний кремній | uk_UA |
dc.subject | одновісна деформація | uk_UA |
dc.subject | омічні контакти | uk_UA |
dc.subject | рентгенівське опромінення | uk_UA |
dc.title | Дослідження змін електропровідності опромінених Х-променями кристалів p-Si в процесі пружної деформації | uk_UA |
dc.title.alternative | Investigation of Conductibility Changes of Irradiated p-Si Crystal by X-rays During the Recoverable Deformation | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т. 15, № 2 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1502-12.pdf | 311.52 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.